ディープフェイクを見破る「電子透かし」技術 東大発AIスタートアップ開発 改ざんを高精度に検知
東大発のAIスタートアップ・TDAI Labは、ディープフェイク画像の改ざん箇所を特定できる「電子透かし」技術を開発した。
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2025年1月22日、東京大学発のAIスタートアップ「TDAI Lab」が、ディープフェイク画像の改ざん箇所を特定できる新しい「電子透かし」技術を開発したと発表しました。この技術は、改ざん内容の確認や、コンテンツの信頼性を保ちながら情報を共有する際に役立つとされています。
電子透かし技術の概要
- 定義: 電子透かしは、デジタルデータに人間の目には見えない印を埋め込み、そのデータの来歴情報を記録する技術です。
- 従来の課題: 従来の電子透かし技術は、データのトリミングやリサイズによって埋め込まれた情報が失われるという問題がありました。
- 新技術の特徴: TDAI Labの新しい技術は、ディープフェイクなどの高度な改ざんにも対応できるように設計されています。
機能と利点
- 改ざん検出: 電子透かしが付いた画像に対してディープフェイクが行われた場合、剥がれた箇所から攻撃内容を特定し、改ざん位置を検出・可視化することが可能です。
- 実運用: TDAI Labは、この技術のα版をニュースメディアや公的機関に提供し、実運用に向けた検証を開始しています。
TDAI Labは、東京大学大学院の鳥海不二夫教授の研究室から発展したAIベンチャーで、2016年に設立され、企業向けにAIシステムの開発・提供を行っています
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